leida Technologies

La technologie µLight


Les sources µLight sont composées de pixels, comme ceux d'un écran de téléphone.
Chaque pixel peut être contrôlé en intensité et en couleur à l'aide de logiciels développés par leida Technologies : il est ainsi possible de former des motifs particuliers pour illuminer les échantillons observés en transmission.

Source µLight 59 pixels

Photo de la source à 59 pixels qui équipe les modèles de série des sources µLight.


Motif fond clair

L'ouverture numérique peut être ajustée en sélectionnant le nombre d'anneaux allumés.




Motif contraste de phase de Zernike

Associé à un objectif pour le contraste de phase, on passe du fond clair à la phase par un simple click avec la souris d'un ordinateur.

Motif Rheinberg

En microscopie classique, l'illumination de Rheinberg est réalisée en plaçant des filtres dans le condenseur. Avec µLight, un simple click suffit.

Motif relief

L'illumination oblique permet de visualiser en temps réel des objets transparents, aux oculaires ou avec une caméra.


Logo µLight

Un petit sourire.



Exemple 1 : Visual Focus Assist (VFA)


Pour réaliser la mise au point d’une image avec un microscope, nous avons conçu une méthode d’illumination à deux ondes qui permet de dédoubler l’image d’un objet lorsqu'il n'est pas net.
Quand la mise au point est assurée, les deux images sont superposées.
Illustration ci-dessous : à gauche, les images floues, à droite, la mise au point est assurée.
Première ligne : images en VFA. Deuxième ligne : les mêmes images en fond clair.


La méthode est simple, rapide, efficace.



Images d'un micromètre objet observé en VFA (brevet FR3076912).


Images d'un micromètre objet observé en fond clair.
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La profondeur de champ est plus grande en VFA qu'en fond clair et il est plus facile de repérer les objets hors focus.
Cette méthode permet aussi de mesurer le défaut de mise au point pour réaliser un autofocus.
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Exemple 2 : réveler l'invisible

D'un simple clic de souris, il est possible d'observer des structures invisibles en fond clair ou en fond noir.


Nous avons mis au point une nouvelle méthode d'observation en contraste de phase possible avec des objectifs standard et une structuration de la lumière (brevet FR1770787).



Inclusions dans une couche mince de vernis. A gauche, observation en fond clair. A droite, en Contraste de Phase Anomal (CPA).

Cette méthode permet d'éviter d'utiliser un condenseur et des objectifs spéciaux.
Elle est bien adaptée en association avec la microscopie confocale et la microspectrométrie Raman.


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